IEEE design & test
Finna-arvio
IEEE design & test
IEEE design & test (Online)
Tallennettuna:
Genre | |
---|---|
Muut nimekkeet |
IEEE design and test |
Kieli |
englanti |
Huomautukset |
Refereed/Peer-reviewed |
Julkaisija |
New York, NY :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
|
Luokitus | |
Dewey-luokitus |
621 |
Aiheet | |
Muu ilmiasu |
2168-2356 |
Edeltäjä |
IEEE Design & Test of Computers |
Julkaistu |
Began with: Volume 30, number 1 (January/February 2013) |
Julkaisutiheys |
Six issues yearly |
ISSN |
2168-2364 |
Hankintapaikka |
3 Park Avenue, 17th Floor, New York, NY 10016-5997 |
Huomautukset |
Publication of the IEEE Circuits and Systems Society, IEEE Council on Electronic Design Automation, IEEE Solid State Circuits Society, and the IEEE Test Technology Technical Council |
Hae kokoteksti |